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タイトル
和文:トランジスタ動作時における GaN HEMT ゲートリークのデバイスシミュレーションによる解析 
英文: 
著者
和文: 大石敏之, 林一夫, 佐々木肇, 山口裕太郎, 大塚浩志, 山中宏治, 中山正敏, 宮本恭幸.  
英文: 大石敏之, 林一夫, 佐々木肇, Yuutarou Yamaguchi, 大塚浩志, 山中宏治, 中山正敏, YASUYUKI MIYAMOTO.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2012年9月11日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:電子情報通信学会2012年ソサエティ大会 
英文: 
開催地
和文:富山市 
英文: 

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