Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Designing various component analysis at will 
著者
和文: Kimura, A., 杉山 将, Kameoka, H., Sakano, H..  
英文: Kimura, A., Sugiyama, M., Kameoka, H., Sakano, H..  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:21st International Conference on Pattern Recognition 
巻, 号, ページ         pp. 2959-2962
出版年月 2012年 
出版者
和文: 
英文:21st International Conference on Pattern Recognition 
会議名称
和文: 
英文:21st Inaternational Conference on Pattern Recognition(ICPR2012) 
開催地
和文: 
英文:Tsukuba 

©2007 Institute of Science Tokyo All rights reserved.