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論文・著書情報


タイトル
和文:微細構造の実効誘電率計算のための静電界解析 
英文:Electrostatic Analysis of Effective Permittivity for Microstructure 
著者
和文: 平野拓一, 廣川二郎, 安藤 真.  
英文: Takuichi Hirano, JIRO HIROKAWA, Makoto Ando.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:電子情報通信学会技術研究報告 
英文: 
巻, 号, ページ vol. 113    no. 141    pp. 13-18
出版年月 2013年7月 
出版者
和文:電子情報通信学会 
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会議名称
和文: 
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開催地
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英文: 

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