複数探触子TOFD法による隣接きずの寸法測定に関する基礎的研究

論文・著書情報

タイトル

和文:	複数探触子TOFD法による隣接きずの寸法測定に関する基礎的研究
英文:	Fundamental Study on Sizing of Neighboring Flaws by Multiple Probes TOFD Method

著者

和文:	黒川悠, 井上裕嗣.
英文:	Yu Kurokawa, Hirotsugu Inoue.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	日本機械学会M&M2012材料力学カンファレンスCD-ROM論文集
英文:

巻, 号, ページ

No. No.12-5

出版年月

2012年9月21日

出版者

和文:	日本機械学会
英文:	The Japan Society of Mechanical Engineers

会議名称

和文:	日本機械学会M&M2012材料力学カンファレンス
英文:

開催地

和文:	愛媛
英文: