Determination of Aberration Center of STEM Ronchigram for Fully Automated Aberration Correctors

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Determination of Aberration Center of STEM Ronchigram for Fully Automated Aberration Correctors

著者

和文:	三宮工, 沢田英敬, T. Nakamichi, 細川史生, 中村吉男, 谷城康眞, 高柳邦夫.
英文:	T. Sannomiya, H. Sawada, T. Nakamichi, F. Hosokawa, YOSHIO NAKAMURA, Y. Tanishiro, K. Takayanagi.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2013年8月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	Microscopy and Microanalysis

開催地

和文:
英文:	Indianapolis