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論文・著書情報


タイトル
和文:セラミックスの絶縁破壊電界強度と誘電率の関係 
英文: 
著者
和文: 和泉 達也, 山崎 幹雄, 保科 拓也, 武田 博明, 鶴見 敬章.  
英文: tatsuya izumi, Mikio Yamazaki, Takuya Hoshina, Hiroaki Takeda, takaaki tsurumi.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2013年3月19日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:日本セラミックス協会2013年年会 
英文: 
開催地
和文:東京 
英文: 

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