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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Direct measurement of the valley splitting in a few-electron silicon quantum dot using charge sensor source-drain bias spectroscopy 
著者
和文: 堀部 浩介, 小寺 哲夫, 小田 俊理.  
英文: K. Horibe, T. Kodera, S. Oda.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ         ThP65
出版年月 2013年7月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:EP2DS-20/MSS-16 
開催地
和文: 
英文:Wroclaw 

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