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論文・著書情報


タイトル
和文:Si/SiGe系MOS構造量子ポイントコンタクトの特性評価 
英文: 
著者
和文: 神岡純, 小寺哲夫, 武田健太, 小幡利顕, Waseem. M. Akhtar, 樽茶清悟, 小田俊理.  
英文: jun kamioka, Tetsuo Kodera, Kenta Takeda, Toshiaki Obata, Akhtar Waseem.M., Seigo Tarucha, SHUNRI ODA.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2013年 
出版者
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会議名称
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開催地
和文: 
英文:京田辺市 

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