Experimental Evidence of Hot Electron Detection with Scanning Hot Electron Microscopy (SHEM)

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Experimental Evidence of Hot Electron Detection with Scanning Hot Electron Microscopy (SHEM)

著者

和文:	F. Vazquez, D. Kobayashi, I. Kobayashi, K. Furuya, 宮本智之, 丸山武男, 渡辺正裕, 浅田雅洋.
英文:	F. Vazquez, D. Kobayashi, I. Kobayashi, K. Furuya, Y. Miyamoto, T. Maruyama, M. Watanabe, M. Asada.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

Sympo. IV-7 187-189

出版年月

1996年8月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	the 1996 International Conference on Solid State Devices and Materials

開催地

和文:
英文:	Yokohama, Japan