Transmission Electron Microscopy Analysis of CaF2/CdF2/CaF2 Resonant Tunneling Diode Structures grown on Si(100) Substrate

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Transmission Electron Microscopy Analysis of CaF₂/CdF₂/CaF₂ Resonant Tunneling Diode Structures grown on Si(100) Substrate

著者

和文:	渡辺正裕, 金澤徹, 浅田雅洋.
英文:	M. Watanabe, T. Kanazawa, M. Asada.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

Vol. TuD P8 pp. 222

出版年月

2007年10月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	The 34th International Symposium on Compound Semiconductors (ISCS2007)

開催地

和文:
英文:	Kyoto, Japan