Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Seventy nm Pitch Patternings on CaF2 by e-beam Exposure: An Inorganic Resist and a Contamination Resist 
著者
和文: 渡辺正裕, H. Hongo, T. Hattori, 宮本 恭幸, K. Furuya, T. Matsunuma, 浅田 雅洋.  
英文: MASAHIRO WATANABE, H. Hongo, T. Hattori, Y. Miyamoto, K. Furuya, T. Matsunuma, M. Asada.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Jpn. J. Appl. Phys. 
巻, 号, ページ Vol. 35    No. 12A    pp. 6342-6343
出版年月 1996年12月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 
DOI https://doi.org/10.1143/JJAP.35.6342

©2007 Tokyo Institute of Technology All rights reserved.