【重要】T2R2・STARSearchの停止と後継システムについて
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論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Seventy nm Pitch Patternings on CaF
2
by e-beam Exposure: An Inorganic Resist and a Contamination Resist
著者
和文:
渡辺正裕
, H. Hongo, T. Hattori,
宮本 恭幸
, K. Furuya, T. Matsunuma,
浅田 雅洋
.
英文:
MASAHIRO WATANABE
, H. Hongo, T. Hattori,
Y. Miyamoto
, K. Furuya, T. Matsunuma,
M. Asada
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
Jpn. J. Appl. Phys.
巻, 号, ページ
Vol. 35 No. 12A pp. 6342-6343
出版年月
1996年12月
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
開催地
和文:
英文:
DOI
https://doi.org/10.1143/JJAP.35.6342
©2007
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