Positive Gate Bias Instability Induced by Diffusion of Neutral Hydrogen in Amorphous In–Ga–Zn–O Thin-Film Transistor

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Positive Gate Bias Instability Induced by Diffusion of Neutral Hydrogen in Amorphous In–Ga–Zn–O Thin-Film Transistor

著者

和文:	Kay Domen, 宮瀬貴也, 安部勝美, 細野秀雄, 神谷利夫.
英文:	Kay Domen, Takaya Miyase, Katsumi Abe, Hideo Hosono, Toshio Kamiya.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEEE Electron Dev. Lett.

巻, 号, ページ

Vol. 35 pp. 832-834

出版年月

2014年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
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開催地

和文:
英文: