Interface Charge Trap Density of Solution Processed Ferroelectric Gate Thin Film Transistor Using ITO/PZT/Pt Structure

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Interface Charge Trap Density of Solution Processed Ferroelectric Gate Thin Film Transistor Using ITO/PZT/Pt Structure

著者

和文:	Pham Van Thanh, Bui Nguyen Quoc Trinh, 宮迫毅明, Phan Trong Tue, 徳光永輔, 下田達也.
英文:	Pham Van Thanh, Bui Nguyen Quoc Trinh, Takaaki Miyasako, Phan Trong Tue, Eisuke Tokumitsu, Tatsuya Shimoda.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Ferroelectrics Letters Section

巻, 号, ページ

Vol. 40 pp. 17-29

出版年月

2013年1月

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

和文:
英文: