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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Visualization of ultrafast electron dynamics using time-resolved photoemission electron microscopy 
著者
和文: 福本 恵紀, 山田友輝, 松木 喬, 恩田 健, 野口 智弘, 溝口 来成, 小田 俊理, 腰原 伸也.  
英文: Keiki Fukumoto, Yuuki Yamada, Takashi Matsuki, Ken Onda, Tomohiro Noguchi, Raisei Mizokuchi, Shunri Oda, Shin-ya Koshihara.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2014年7月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:International Conference on Ultrafest Phenomena 
開催地
和文: 
英文:Okinawa 
アブストラクト We constructed a TR-PEEM which can directly image the photo-generated electron dynamics in semiconductor on nm and fs scales. Carrier transport properties relating to device performance, carrier lifetime, drift velocity and mobility, are investigated.

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