Normally-off AlGaN/GaN HEMT using Digital Etching Technique

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Normally-off AlGaN/GaN HEMT using Digital Etching Technique

著者

和文:	山中僚大, 金澤徹, E. Yagyu, 宮本恭幸.
英文:	R. Yamanaka, T. Kanazawa, E. Yagyu, Y. Miyamoto.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2014年11月7日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	2014 International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC)

開催地

和文:
英文:	Fukuoka