Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Positive-Bias Stress Test on Amorphous In–Ga–Zn–O Thin Film Transistor: Annealing-Temperature Dependence 
著者
和文: K. Domen, 宮瀬 貴也, 安部 勝美, 細野 秀雄, 神谷 利夫.  
英文: K. Domen, T. Miyase, K. Abe, H. Hosono, T. Kamiya.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:J. Displ. Technol. 
巻, 号, ページ Vol. 10        pp. 975-978
出版年月 2014年 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 

©2007 Institute of Science Tokyo All rights reserved.