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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Positive-Bias Stress Test on Amorphous In–Ga–Zn–O Thin Film Transistor: Annealing-Temperature Dependence 
著者
和文: K. Domen, 宮瀬 貴也, 安部 勝美, 細野 秀雄, 神谷 利夫.  
英文: K. Domen, T. Miyase, K. Abe, H. Hosono, T. Kamiya.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:J. Displ. Technol. 
巻, 号, ページ Vol. 10        pp. 975-978
出版年月 2014年 
出版者
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会議名称
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開催地
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