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論文・著書情報
タイトル
和文:
DLTS法による窒化後酸化SiC-MOSFETの界面準位評価
英文:
著者
和文:
長谷川淳一
, 野口宗隆, 中田修平,
須藤建瑠
,
岩崎孝之
,
小寺哲夫
,
古橋壮之
,
西村正
,
波多野睦子
.
英文:
Junichi Hasegawa
, 野口宗隆, 中田修平,
Takeru Suto
,
Takayuki Iwasaki
,
Tetsuo Kodera
,
古橋壮之
,
西村正
,
Mutsuko Hatano
.
言語
Japanese
掲載誌/書名
和文:
英文:
巻, 号, ページ
出版年月
2014年9月18日
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
第75回応用物理学会秋季学術講演会
英文:
開催地
和文:
札幌
英文:
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