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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Correlation of 1/f noise between semiconductor point contacts with a common lead 
著者
和文: 山岸 正和, 橋坂昌幸, 村木 康二, 藤澤 利正.  
英文: Masakazu Yamaghishi, Masayuki Hashisaka, Muraki Koji, Fujisawa Toshimasa.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Japanese Journal of Applied Physics 
巻, 号, ページ Vol. 51        p. 02BJ08
出版年月 2012年2月20日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:2012 International Conference on Solid State Devices and Materials 
開催地
和文: 
英文:Kyoto 
DOI https://doi.org/10.1143/JJAP.51.02BJ08

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