GaN HEMTの過渡応答バイアス依存性によるトラップ解析 | T2R2 東京科学大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	GaN HEMTの過渡応答バイアス依存性によるトラップ解析
英文:

著者

和文:	山口裕太郎, 大石敏之, 大塚浩志, 山中宏治, TeoKoonHoo, 宮本恭幸.
英文:	Yuutarou Yamaguchi, 大石敏之, 大塚浩志, 山中宏治, TeoKoonHoo, YASUYUKI MIYAMOTO.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2014年3月18日

出版者

和文:
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会議名称

和文:	第61回春季応用物理学会学術講演会
英文:

開催地

和文:	相模原市
英文:

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