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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Accurate Characterization Method for Cross-Line on CMOS Based on Two-Port Measurements 
著者
和文: Tokgoz KorkutKaan, 眞木 翔太郎, 岡田 健一, 松澤 昭.  
英文: Korkut Kaan Tokgoz, 眞木 翔太郎, 岡田 健一, 松澤 昭.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ         C-12-6
出版年月 2016年3月15日 
出版者
和文: 
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会議名称
和文:電子情報通信学会 総合大会 
英文: 
開催地
和文:福岡 
英文: 

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