Measurement of charge states in Si/SiGe multiple quantum dots

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Measurement of charge states in Si/SiGe multiple quantum dots

著者

和文:	Tomohiro Otsuka, 武田健太, Jun Yoneda, 本田拓夢, Matthieu R. Delbecq, Giles Allison, Marian Marx, 中島貴史, 小寺哲夫, 小田俊理, Yusuke Hoshi, Noritaka Usami, Kohei M. Itoh, 樽茶清悟.
英文:	Tomohiro Otsuka, Kenta Takeda, Jun Yoneda, Takumu Honda, Matthieu R. Delbecq, Giles Allison, Marian Marx, Takashi Nakajima, Tetsuo Kodera, Shunri Oda, Yusuke Hoshi, Noritaka Usami, Kohei M. Itoh, Seigo Tarucha.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2016年6月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	Silicon Quantum Electronics Workshop 2016

開催地

和文:
英文:	Delft