Accurate predictions of defect properties in semiconductors: Towards understanding, screening, and discovery of materials

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Accurate predictions of defect properties in semiconductors: Towards understanding, screening, and discovery of materials

著者

和文:	大場史康.
英文:	Fumiyasu Oba.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	AMTC Letters

巻, 号, ページ

vol. 5 pp. 74-75

出版年月

2016年5月11日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	The 5th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC5)

開催地

和文:
英文:	Nagoya