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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Accurate predictions of defect properties in semiconductors: Towards understanding and screening of materials 
著者
和文: 大場史康.  
英文: Fumiyasu Oba.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2015年11月19日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:2nd International Symposium on Frontiers in Materials Science 
開催地
和文:東京 
英文:Tokyo 

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