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論文・著書情報
タイトル
和文:
0次減衰する連想記憶モデルの記憶容量に関する研究
英文:
Storage capacity of the associative memory model with the zero-order synaptic decay
著者
和文:
宮田 龍太
, 綴木 馴,
青西 亨
, 倉田 耕治.
英文:
Ryouta Miyata
, 綴木 馴,
Toru Aonishi
, 倉田 耕治.
言語
Japanese
掲載誌/書名
和文:
電子情報通信学会技術研究報告
英文:
巻, 号, ページ
Vol. 111 No. 419 pp. 1-6
出版年月
2012年1月19日
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
電子情報通信学会ニューロンコンピューティング研究会
英文:
開催地
和文:
公立はこだて未来大学
英文:
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