High-resolution total-cross-section measurements for electron scattering from Ar, Kr, and Xe employing a threshold-photoelectron source

論文・著書情報

タイトル

和文:	High-resolution total-cross-section measurements for electron scattering from Ar, Kr, and Xe employing a threshold-photoelectron source
英文:	High-resolution total-cross-section measurements for electron scattering from Ar, Kr, and Xe employing a threshold-photoelectron source

著者

和文:	黒川学, 北島昌史, 豊島海士, 木住野貴也, 小田切丈, Kato, H., Hoshino, M., Tanaka, H., Ito, K..
英文:	Manabu Kurokawa, Masashi KITAJIMA, Kaiji Toyoshima, Takaya Kishino, Takeshi Odagiri, Kato, H., Hoshino, M., Tanaka, H., Ito, K..

言語

English

掲載誌/書名

和文:	Physical Review a
英文:	Physical Review a

巻, 号, ページ

Vol. 84 No. 6 pp. 062717-1-13

出版年月

2011年12月29日

出版者

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会議名称

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開催地

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DOI