Development of Simultaneous Measurement Technique for In-Situ X-Ray Diffraction and Small Angle X-Ray Scattering and its Application to Analysis of Microstructure Evolution of Metallic Materials

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Development of Simultaneous Measurement Technique for In-Situ X-Ray Diffraction and Small Angle X-Ray Scattering and its Application to Analysis of Microstructure Evolution of Metallic Materials

著者

和文:	宮澤知孝, 宮本翔, 小金澤智之, 佐藤眞直, 藤居俊之.
英文:	Tomotaka Miyazawa, Sho Miyamoto, Tomoyuki Koganezawa, Masugu Sato, Toshiyuki Fujii.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2016年8月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	9th Pacific Rim International Conference on Advanced Materials and Processing (PRICM9)

開催地

和文:
英文:	Kyoto

受賞情報

Excellent Poster Award for Young Scientist