【重要】T2R2・STARSearchの停止と後継システムについて English

Home > ヘルプ 論文・著書情報 タイトル 和文:   英文: Effect of Stress on Ferroelectricity of (Hf0.5Zr0.5)O2 Thin Films  著者 和文: 舟窪 浩, 白石 貴久, 清水 荘雄, 横内 達彦, T.Oikawa, 内田 寛.   英文: H.Funakubo, T.Shiraishi, T.Shimizu, T.Yokouchi, T.Oikawa, H.Uchida.   言語 English  掲載誌/書名 和文:   英文:   巻, 号, ページ         出版年月 2015年9月27日  出版者 和文:   英文:   会議名称 和文:   英文: SSDM 2015  開催地 和文:   英文: Sapporo

©2007 Institute of Science Tokyo All rights reserved.