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タイトル
和文:XRD測定による (100)/(001)配向正方晶Pb(Zr,Ti)O3膜の電界印加下の結晶構造変化の定量分析 
英文: 
著者
和文: 舟窪 浩, 大島 直也, 清水 荘雄, 中島 光雅, 江原 祥隆, 及川 貴弘, 内田 寛.  
英文: HIROSHI FUNAKUBO, Naoya Oshima, Takao Shimizu, Mitsumasa Nakajima, yoshitaka Ehara, 及川 貴弘, Hiroshi Uchida.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2015年9月13日 
出版者
和文: 
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会議名称
和文:第76回応用物理学会秋季学術講演会 
英文: 
開催地
和文:名古屋市 
英文: 

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