カーブフィッティングを用いた半導体スイッチング素子損失の解析

論文・著書情報

タイトル

和文:	カーブフィッティングを用いた半導体スイッチング素子損失の解析
英文:	Analysis of power losses in semiconductor switching devices

著者

和文:	糸川祐樹, 藤田英明.
英文:	Yuuki Itogawa, Hideaki Fujita.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	電気学会産業応用部門大会
英文:	IEEJ Japan Industry Application Society Conference

巻, 号, ページ

Vol. 1 no. 42 pp. 203-208

出版年月

2014年8月26日

出版者

和文:	電気学会
英文:	Institute of Electrical Engineering in Japan

会議名称

和文:	産業応用部門大会
英文:	Industry Application Society Conference

開催地

和文:
英文: