Carrier lifetime measurement in a microcrystalline silicon wire waveguide

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Carrier lifetime measurement in a microcrystalline silicon wire waveguide

著者

和文:	前川佑一, 武井亮平, 庄司雄哉, 水本哲弥, 亀井利浩.
英文:	Y. Maekawa, Ryouhei Takei, Y. Shoji, T. Mizumoto, T. Kamei.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

MD3.2

出版年月

2016年10月2日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	IEEE Photonics Conference (IPC 2016)

開催地

和文:
英文:	Waikoloa