Fin width dependence on gate controllability of InGaAs channel FinFETs with regrown source/drain

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Fin width dependence on gate controllability of InGaAs channel FinFETs with regrown source/drain

著者

和文:	木瀬信和, 木下治紀, 行待篤志, 金澤徹, 宮本恭幸.
英文:	Nobukazu Kise, Haruki Kinoshita, Atsushi Yukimachi, Toru Kanazawa, Yasuyuki Miyamoto.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Solid-State Electronics

巻, 号, ページ

Vol. 126 pp. 92-95

出版年月

2016年9月17日

出版者

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会議名称

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開催地

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