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論文・著書情報


タイトル
和文:外部電界による分子軌道の変形を利用した整流特性の発現 
英文: 
著者
和文: 山田亮, アルブレヒト建, 大戸達彦, 美濃出圭吾, 山元公寿, 夛田博一.  
英文: ryo yamada, Ken Albrecht, 大戸達彦, 美濃出圭吾, Kimihisa Yamamoto, 夛田博一.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2017年3月19日 
出版者
和文: 
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会議名称
和文:cREST3領域合同第3回公開シンポジウム 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 

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