Automatic Recognition of DNA Nanostructures on Atomic Force Microscopy (AFM) Image: First Experience on DNA Pliers

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Automatic Recognition of DNA Nanostructures on Atomic Force Microscopy (AFM) Image: First Experience on DNA Pliers

著者

和文:	Han Y, 原章斗, Kuzuya A, Watanabe R, Ohya Y, 小長谷明彦.
英文:	Han Y, Hara A, Kuzuya A, Watanabe R, Ohya Y, Konagaya A.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	International Conference on Applied and Theoretical Information Systems Research

開催地

和文:
英文:	Taipei