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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Energetics and Scanning Tunneling Microscopy Images of B and N Defectsin Graphene Bilayer 
著者
和文: 藤本 義隆, 齋藤 晋.  
英文: Yoshitaka Fujimoto, Susumu Saito.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Springer Proceedings in Physics 
巻, 号, ページ Vol. 186    No. 107   
出版年月 2016年11月10日 
出版者
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会議名称
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開催地
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DOI https://doi.org/10.1007/978-3-319-46601-9_13

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