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論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Heavily-doped SOI with SAM-Based Gate Dielectrics in Application to TMDC FET
著者
和文:
居駒 遼
,
川那子 高暢
,
河野行雄
.
英文:
Ryo Ikoma
,
Takamasa Kawanago
,
Yukio Kawano
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
巻, 号, ページ
出版年月
2017年10月3日
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
232nd ECS Meeting
開催地
和文:
ワシントン
英文:
©2007
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