English
Home
各種検索
研究業績検索
論文・著書検索
( 詳細検索 )
特許検索
( 詳細検索 )
研究ハイライト検索
( 詳細検索 )
研究者検索
組織・担当から絞り込む
サポート
よくあるご質問(FAQ)
T2R2登録申請
学位論文登録について
組織単位データ出力について
(学内限定)
サポート・問合せ
T2R2について
T2R2とは?
運用指針
リーフレット
本文ファイルの公開について
関連リンク
東京科学大学
東京科学大学STARサーチ
国立情報学研究所(学術機関リポジトリ構築連携支援事業)
Home
>
ヘルプ
論文・著書情報
タイトル
和文:
ナノインデンテーション装置によるナノ粒子圧縮試験における圧子形状の影響
英文:
著者
和文:
室伏 梨穂
,
青野 祐子
,
平田 敦
.
英文:
Yuko Aono
,
Yuko Aono
,
ATSUSHI HIRATA
.
言語
Japanese
掲載誌/書名
和文:
2017年度精密工学会春季大会学術講演会講演論文集
英文:
巻, 号, ページ
pp. 87-88
出版年月
2017年3月14日
出版者
和文:
公益社団法人 精密工学会
英文:
会議名称
和文:
2017年度精密工学会春季大会学術講演会
英文:
開催地
和文:
英文:
アブストラクト
ナノ粒子の機械的性質を評価するため,先端曲率半径150nmのバーコビッチ圧子と,1μmのコニカル圧子を用いた走査型プローブ顕微鏡(SPM)複合型ナノインデンテーション装置による圧縮破壊試験法を試みた.シリカ粒子の圧縮試験において,バーコビッチ圧子を用いた場合は破壊点に近付くにつれて荷重-変位線図の傾きが小さくなる傾向を確認し,その原因が圧子先端半径および形状に由来することを明らかにした.
©2007
Institute of Science Tokyo All rights reserved.