メモリアクセスパターン依存故障の注入のためのQEMUベース故障注入器

小林佑矢; 實本英之; 野村哲弘; 松岡聡

論文・著書情報

タイトル

和文:	メモリアクセスパターン依存故障の注入のためのQEMUベース故障注入器
英文:

著者

和文:	小林佑矢, 實本英之, 野村哲弘, 松岡聡.
英文:	Yuya Kobayashi, HIDEYUKI JITSUMOTO, Akihiro Nomura, SATOSHI MATSUOKA.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	研究報告ハイパフォーマンスコンピューティング（HPC）
英文:

巻, 号, ページ

2018-HPC-163 8 1 - 10

出版年月

2018年2月

出版者

和文:	一般社団法人情報処理学会
英文:	Information Processing Society of Japan

会議名称

和文:	第163回ハイパフォーマンスコンピューティング研究会
英文:

開催地

和文:	〒790-0843 愛媛県松山市道後町２丁目５−１
英文:

公式リンク

https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/ej/?action=pages_view_main&active_action=repository_view_main_item_detail&item_id=186037&item_no=1&page_id=13&block_id=8

アブストラクト

近年，大規模計算機システムでの故障の増加が問題になっている．様々な耐故障技術が開発されたが，オーバーヘッドと耐故障性の間にトレードオフがあり，適切な手法の選択が難しい．耐故障技術の評価には故障注入が用いられるが，既存の故障注入器ではハードウェア特有の故障を再現し，アプリケーションレベルの詳細な解析ができない．我々は，ハードウェアに特有の故障を再現し，アプリケーションレベルの解析を容易に行える故障注入プラットフォームの提供を目的とする．本研究では，故障の主な発生源の一つである DRAM を対象にして，メモリアクセスパターン依存故障をメモリ I / O フックにより注入した上で，耐故障性テスト対象のプロセスのメモリマップ情報を取得できる QEMU ベース故障注入器 MH - QEMU を作成した．評価では，MH - QEMU の故障注入機能使用時には，テスト対象アプリケーションの実行時間が最良の場合でも 77 倍になることを確認した．中でも，メモリインテンシブであったり，ノード間通信が少ないアプリケーションほどオーバーヘッドが大きいことを確認した．また，MH - QEMU で NAS Parallel Benchmark の CG カーネルの耐故障性評価を行い，Row - Hammer 発生時に Silent Data Corruption につながりやすいデータ領域を特定した

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