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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Quantitative relationship between sputter-deposited-MoS2 properties and underlying-SiO2 surface roughness 
著者
和文: 大橋匠, 宗田 伊理也, 角嶋 邦之, 筒井 一生, 若林 整.  
英文: Takumi Ohashi, Iriya Muneta, Kuniyuki Kakushima, Kazuo Tsutsui, Hitoshi Wakabayashi.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Applied Physics Express 
巻, 号, ページ Vol. 10       
出版年月 2017年3月 
出版者
和文: 
英文:IOP Publishing 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 
公式リンク http://iopscience.iop.org/article/10.7567/APEX.10.041202/meta
 
DOI https://doi.org/10.7567/APEX.10.041202

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