Direct Nanoscale Sensing of the Internal Electric Field in Operating Semiconductor Devices Using a Single Electron Spins

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Direct Nanoscale Sensing of the Internal Electric Field in Operating Semiconductor Devices Using a Single Electron Spins

著者

和文:	岩崎孝之, 成木航, 田原康佐, T. Makino, H. Kato, M. Ogura, D.Takeuchi, S. Yamasaki, 波多野睦子.
英文:	T. Iwasaki, W. Naruki, K. Tahara, T. Makino, H. Kato, M. Ogura, D.Takeuchi, S. Yamasaki, M. Hatano.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	ACS Nano

巻, 号, ページ

Vol. 11 pp. 1238-1245

出版年月

2017年1月

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

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DOI