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論文・著書情報


タイトル
和文:Admittance spectroscopy analysis on the interfacial defect levels in the surface-activated bonding of GaAs 
英文:Admittance spectroscopy analysis on the interfacial defect levels in the surface-activated bonding of GaAs 
著者
和文: Yamashita, D., Watanabe, K., Fujino, M., Hoshii, T., Okada, Y., Nakano, Y., Suga, T., Sugiyama, M., 星井拓也.  
英文: Yamashita, D., Watanabe, K., Fujino, M., Hoshii, T., Okada, Y., Nakano, Y., Suga, T., Sugiyama, M., Takuya Hoshii.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文:2017 IEEE 44th Photovoltaic Specialist Conference, PVSC 2017 
英文:2017 IEEE 44th Photovoltaic Specialist Conference, PVSC 2017 
巻, 号, ページ         pp. 1-3
出版年月 2018年 
出版者
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会議名称
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開催地
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公式リンク http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-85048495293&partnerID=MN8TOARS
 
DOI https://doi.org/10.1109/PVSC.2017.8366530

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