What are the Reasons Why Japanese Enterprises File So Many Patent Applications without Request for Examination?

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	What are the Reasons Why Japanese Enterprises File So Many Patent Applications without Request for Examination?

著者

和文:	増嶌稔, 田中義敏.
英文:	Minoru Masujima, Yoshitoshi Tanaka.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proceedings of PICMET '11: Technology Management in the Energy Smart World

巻, 号, ページ

pp. 1558-1566

出版年月

2011年8月4日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	Portland International Center for Management of Engineering and Technology (PICMET) 2011

開催地

和文:
英文:	Portland, Oregon

ファイル

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