Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Virtually Nonovolatile Retention Flip-Flop Using FinFET Technology 
著者
和文: 北形 大樹, 山本 修一郎, 菅原 聡.  
英文: D. Kitagata, S. Yamamoto, S. Sugahara.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2018年6月17日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:2018 IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW 2018) 
開催地
和文: 
英文:Honolulu 

©2007 Tokyo Institute of Technology All rights reserved.