Thickness-dependent ferroelectric properties of Mn-doped BiFeO3 films formed on Pt and SrRuO3/Pt electrodes by RF Sputtering

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Thickness-dependent ferroelectric properties of Mn-doped BiFeO3 films formed on Pt and SrRuO3/Pt electrodes by RF Sputtering

著者

和文:	Jeong Hwan Kim, 舟窪浩, Yoshihiro Sugiyama, Hiroshi Ishiwara.
英文:	Jeong Hwan Kim, Hiroshi Funakubo, Yoshihiro Sugiyama, Hiroshi Ishiwara.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Current Applied Physics

巻, 号, ページ

Vol. 11 pp. S228-S231

出版年月

2011年

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
英文: