電荷変調分光法による錫ペロブスカイト薄膜のトラップ準位の評価

論文・著書情報

タイトル

和文:	電荷変調分光法による錫ペロブスカイト薄膜のトラップ準位の評価
英文:	Analysis of the trap level in tin perovskite thin films by using charge modulation spectroscopy

著者

和文:	野間大史, 田口大, 間中孝彰, 岩本光正.
英文:	Taishi Noma, Dai Taguchi, Takaaki Manaka, MITSUMASA IWAMOTO.

言語

Japanese

掲載誌/書名

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巻, 号, ページ

出版年月

2018年9月

出版者

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会議名称

和文:	第79回応用物理学会秋季学術講演会
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開催地

和文:	愛知県名古屋市
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