Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Achieving 63 pm Resolution in Scanning Transmission Electron Microscope with Spherical Aberration Corrector 
著者
和文: 沢田 英敬, 細川 史生, 金山 俊克, 西澤 孝史, M. Terao, M. Kawazoe, 三宮 工, T. Tomita, Y. Kondo, T. Tanaka, Y. Oshima, Y. Tanishiro, N. Yamamoto, K. Takayanagi.  
英文: H. Sawada, F. Hosokawa, T. Kaneyama, T. Ishizawa, M. Terao, M. Kawazoe, T. Sannomiya, T. Tomita, Y. Kondo, T. Tanaka, Y. Oshima, Y. Tanishiro, N. Yamamoto, K. Takayanagi.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Japanese Journal of Applied Physics 
巻, 号, ページ Vol. 46    No. 20-24    pp. L568-L570
出版年月 2007年6月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 
DOI https://doi.org/10.1143/JJAP.46.L568

©2007 Tokyo Institute of Technology All rights reserved.