Physical-Weight-Based Measurement Methodology Suppressing Noise or Reducing Test Time for High-Resolution Low-Speed ADCs

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Physical-Weight-Based Measurement Methodology Suppressing Noise or Reducing Test Time for High-Resolution Low-Speed ADCs

著者

和文:	菅原光俊, 松澤昭, 徐祖楽.
英文:	Mitsutoshi Sugawara, Akira Matsuzawa, Zule Xu.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

Vol. E100-C No. 6 pp. 576-583

出版年月

2017年6月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	IRICE Transaction on Electronics

開催地

和文:
英文: