C-10-7 緑色光照射時の等価回路パラメータ測定によるGaN HEMTのトラップ解析(C-10.電子デバイス,一般セッション) | T2R2 東京科学大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	C-10-7 緑色光照射時の等価回路パラメータ測定によるGaN HEMTのトラップ解析(C-10.電子デバイス,一般セッション)
英文:

著者

和文:	大石敏之, 大塚浩志, 山中宏治, 中山正敏, 平野嘉仁, 宮本恭幸.
英文:	大石敏之, 大塚浩志, 山中宏治, 中山正敏, 平野嘉仁, YASUYUKI MIYAMOTO.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集
英文:

巻, 号, ページ

Vol. 2011 No. 2 pp. 61

出版年月

2011年8月30日

出版者

和文:	一般社団法人電子情報通信学会
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:

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