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論文・著書情報


タイトル
和文:C-10-7 緑色光照射時の等価回路パラメータ測定によるGaN HEMTのトラップ解析(C-10.電子デバイス,一般セッション) 
英文: 
著者
和文: 大石 敏之, 大塚 浩志, 山中 宏治, 中山 正敏, 平野 嘉仁, 宮本恭幸.  
英文: 大石 敏之, 大塚 浩志, 山中 宏治, 中山 正敏, 平野 嘉仁, YASUYUKI MIYAMOTO.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集 
英文: 
巻, 号, ページ Vol. 2011    No. 2    pp. 61
出版年月 2011年8月30日 
出版者
和文:一般社団法人電子情報通信学会 
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会議名称
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開催地
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