The NEC-TT Speaker Verification System for SRE’18

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	The NEC-TT Speaker Verification System for SRE’18

著者

和文:	K. A. LEE, 山本仁, K. Okabe, Q. Wang, L. Guo, 越仲孝文, ZHANG Jiacen, 篠田浩一.
英文:	K. A. LEE, H. Yamamoto, K. Okabe, Q. Wang, L. Guo, T. Koshinaka, J. Zhang, K. Shinoda.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proc.NIST 2018 Speaker Recognition Evaluation

巻, 号, ページ

出版年月

2018年12月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	NIST 2018 Speaker Recognition Evaluation

開催地

和文:	アテネ
英文:	Athen