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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Electronic Defects in Amorphous Oxide Semiconductors 
著者
和文: 井手 啓介, 野村 研二, 細野 秀雄, 神谷 利夫.  
英文: Keisuke Ide, Kenji Nomura, Hideo Hosono, Toshio Kamiya.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:A Review; Phys. Status Solidi A 
巻, 号, ページ 216        1800372
出版年月 2018年 
出版者
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会議名称
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開催地
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