Investigation of Active Load Matching Using GaN HEMT as Digital Switch

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Investigation of Active Load Matching Using GaN HEMT as Digital Switch

著者

和文:	金井七重, 岡田健一, 宮本恭幸.
英文:	Nanae Kanai, Kenichi Okada, Yasuyuki Miyamoto.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2018年7月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Applications of Advanced Semiconductor Devices (AWAD)

開催地

和文:	福岡
英文:	Fukuoka